蛍光Ｘ線分析装置（XRF）
| メーカー名・型式 | リガク・ZSX PrimusII |
|---|---|
| 導入年度 | 平成 25（2013）年度 |
| 設置地区 | 水戸地区 |
| 設置場所 | 研究設備共用センター 2階 XRF室 |
| 公開範囲 | 学内：〇 学外：〇 |
| 依頼測定 | 無 |
| 取扱責任者 | 基礎自然科学野 長谷川 健 |
機器性能および仕様
| X線管 | エンドウインドウ型Rhターゲット 4kW |
|---|---|
| X線出力 | 60kV-150mA(最大定格出力4kW) |
| 検出方式 | 波長分散方式（WDX） |
| 1次X線フィルタ | Ni400、Ni40、Al125、Al25 |
| 照射型 | 上面照射型 |
| ダイアフラム径 | 35、30、20、10、1、0.5mmΦ |
| 試料室雰囲気 | 真空、ヘリウム |
| 分光結晶 | LiF(200)、Ge、PET、RX61、RX25、LiF(220)、RX40、RX75 |
| 検出器 | 重元素用：SC（シンチレーションカウンタ）, 軽元素用：F-PC（ガスフロー型プロポーショナルカウンタ） |
| ASC | 48試料 |
| マッピング分析 | 有、CCDカメラによる観察も可 |
| 元素範囲 | B~U |
分析対象
固体試料、薄膜試料、粉体試料、溶液試料
活用事例
岩石試料の主成分・微量成分元素の定量
粉体試料中元素の定性・半定量分析